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半导体高低温冲击实验机

简要描述:

半导体高低温冲击实验机主要对汽车、电子、船舶、光分路器、钕铁硼、太阳能光伏组件、不锈钢餐具、化工、塑胶、LED节能灯、稀土材料、光纤电缆、五金、等产品和材料作出环境可靠性检测李生/131*1281*1231

更新时间:2020-08-13

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  用途

  半导体高低温冲击实验机用来测试复合材料及材料结构,在瞬间下经及高温及极低温在连续环境下所能忍受的程度,即以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学或物理伤害。适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

  冷热冲击试验箱参数:

  ▲温度范围(测试区) (150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃);(高温区:+60℃~+150℃;低温区-10℃~-65℃)

  ▲保温材质 耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

  ▲系统 P.I.D + S.S.R + 微电脑平衡调温控制系统

  ▲冷却系统 半密闭式双段压缩机(水冷式)/全密闭式双段压缩机(风冷式)

  ▲安全保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关,冷媒高压保护开关、故障警告系统,

  ▲电子警报器

  ▲配 件观视窗(特殊选购型)、上下可调隔层两片、通电测试孔、脚轮、水平支架

  ▲电 源 AC380V 50Hz/60Hz 3 ∮

  ▲重量(大约 700Kg 900Kg l200Kg 1400Kg 1900Kg

  ▲型 号:TS-42(A~C) TS-80(A~C) TS-150(A~C) TS-252(A~C) TS-450(A~C)

  ▲升温时间(蓄热区) RT~200℃约需35min

  ▲降温时间(蓄冷区) RT~-70℃约需85min

  ▲温度回复时间/转换时间 ≤5min内 / ≤l0秒内

  ▲温度控制精度/分布精度 ±0.5℃/±2.0℃

  ▲内部尺寸W*H×D(cm):40×35×30 50×40×40 60×50×50 70×60×60 80×75×75

  ▲外部尺寸W*H×D(cm) 140×180×145 148×190×155 160×200×175 175×210×187 190×220×200

  半导体高低温冲击实验机特点

  ▲的造型升级,操作简单之面板接口。

  ▲采用彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。

  ▲立式三箱结构,高低温箱循环过程自动控制,停留及转换时间可调,不锈钢胆,多形式记录,设有多重安全3、保护措施及装置。

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