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HAST电路板加速老化试验箱

简要描述:

HAST电路板加速老化试验箱用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

更新时间:2019-12-11

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《店铺内所发布的各款试验设备价钱仅为象征性的展示,不能作为实际价,实际价钱以欧可仪器业务员根据客户的要求所做的报价单为准》

  产品详情

  用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。

  HAST电路板加速老化试验箱型号技术参数:OK-HAST-30、40、50、60

  规格内:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70

  温度范围:+100℃~132℃

  湿度范围:可调100%RH饱和蒸气固定

  压力范围:环境大气压+0.5—2kg/cm2

  HAST电路板加速老化试验箱性能:操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.

  1.温度范围:110℃/132℃.(饱和蒸气温度).

  2.湿度范围:10O%RH.(饱和蒸气湿度).

  3.压力范围:0.5Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制点压力(压力容量3.5Kg/cm2).

  4.时间范围:0~999小时可调.

  5.温度分布:(+/-)2.0℃.

  6.升温时间:RT~132℃约35分钟内.(控制点温度)

  7.加压时间:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2约40分钟内(控制点压力)。

  控制系统:

  1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器.

  2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…

  3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

  4.控制方式:微电脑PID控制.

  5.控制精度:(+/-)0.5℃.

  6.解析精度:0.1℃.

  循环方式:饱和水蒸气自然对流循环方式.

  温度感应器:(RTD)PT-100Ω(铂金电阻).

  加温电热器:绝缘耐压型温度电热器.

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