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高低温正弦振动综合试验箱高级的彩色液晶LCD中英文显示微电脑控制系统磁盘片温度记录器,方便在PC上执行曲线分析振动试验机控制系统能力: 线性、对数、倍频扫描
更新时间:2020-09-28
《所发布的各款试验设备价钱仅为象征性的展示,不能作为实际价,实际价钱以欧可仪器业务员根据客户的要求所做的报价单为准》李先生/131*1281*1231
高低温正弦振动综合试验箱技术参数:
型号:OK-ZTH-80 工作室尺寸:40×50×40 箱体尺寸:120×165×115
型号:OK-ZTH-150 工作室尺寸:50×60×50 箱体尺寸:130×170×125
型号:OK-ZTH-225 工作室尺寸:60×75×50 箱体尺寸:140×185×130
型号:OK-ZTH-408 工作室尺寸:60×85×80 箱体尺寸:165×195×155
型号:OK-ZTH-800 工作室尺寸:100×100×80 箱体尺寸:185×200×175
型号:OK-ZTH-1000 工作室尺寸:100×100×100 箱体尺寸:190×210×185
高低温正弦振动综合试验箱推荐标准
GB/T5170.2-1996电工电子产品环境试验设备参数检定方法(温度试验设备)
GB/T2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程(试验A低温试验方法)
GB/T2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程(试验B高温试验方法)
GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程(湿热试验方法)
GJB150.3-86Jun用设备环境试验方法(高温试验)
GB/T 2423.34-2012/IEC 60068-2-38:2009 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
GJB899-1990 可靠性鉴定和验收试验
GJB899A-2009 可靠性鉴定和验收试验
GJB367A-2001 Jun用通信设备通用规范
GJB1407-1992 可靠性增长试验
GB/T 2423.35-2005 / IDT IEC 60068-2-50:1983 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验
GB/T 2423.36-2005 / IDT IEC 60068-2-51:1983 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验
GMW3172-2012 电气-电子元件通用规范-环境/耐久性 9.3.1热循环振动